Product Details
IC Test Handler
高精度：采用自主研發(fā)的高精密運(yùn)動平臺，保證設(shè)備整體運(yùn)行精度；
高效率：過多工位測試分選，產(chǎn)能根據(jù)不同產(chǎn)品最高UPH可達(dá)5500PCS；
智能控制：配備智能化雙人機(jī)界面，操作方便快捷，設(shè)備運(yùn)行實時監(jiān)測；
兼容性高：通過更換不同的治具即可生產(chǎn)不同產(chǎn)品，同時兼容HT整套Change-kit的安裝及使用，滿足多樣化需求；
高可靠性：采用優(yōu)質(zhì)材料和一線品牌，確保設(shè)備長期穩(wěn)定運(yùn)行，降低維護(hù)成本；
雙重防呆設(shè)計：測試座及飛梭IC交換臺X-Y雙方向都有傳感器檢測，避免產(chǎn)品安放不到位而發(fā)生檢測異常；
掃碼功能選配：可選配掃碼功能，讀取IC上二維碼，及kit治具上二維碼。
| 設(shè)備名稱 | 測試分選機(jī) IC Test Handler |
| 設(shè)備型號 | WFD-C5000 |
| UPH(Max) | UPH≤5500 (測試時間≤50s) |
| IC尺寸 | Min5*5mm to Max 24*32mm |
| IC類型 | BGA, QFP, QFN, TSOP, TF Card 等 |
| IC接觸方式 | Pogo Pin Contact |
| IC Tray | JEDEC Standard |
| Socket清潔 | - |
| 料倉配置 | Auto Load*1; Empty*1; Auto Unload*2; Manual*2 |
| 料倉容量 | 40pcs Tray（Max） |
| JAM Rate | ≤1/4000 |
| 測試溫度 | 常溫 |
| 測試板總數(shù) | 16個 |
| 測試點(diǎn)總數(shù) | 128DUT |
| Index Time | Ave. 5.2s (16PC) |
| Min Cycle Time | Ave. 83.7s (128DUT) |
| Conversion Time | < 30 minutes |
| 飛梭IC交換臺位置檢測 | X/Y方向均有感應(yīng)器檢測 |
| 設(shè)備尺寸 | L2400 x W1450 x H1800 mm |
| 設(shè)備重量 | 2000kg |
萬福達(dá)專注于半導(dǎo)體封裝測試設(shè)備的
設(shè)計、制造與銷售
掃碼關(guān)注官方賬號
掃碼關(guān)注視頻號
